美国TEKTRONIX泰克有限责任公司（英文名Tektronix Inc.,以下简称“泰克”）是一家全球领先的测试、测量和监测解决方案提供商。泰克成立于1946年，是世界第一台触发式示波器的发明者。当今泰克已成为全球主要的电子测试测量供应商之一，其市场遍布全球各洲。泰克产品主要包括示波器、信号源、电源、逻辑分析仪、频谱分析仪和误码率分析仪，以及各种视频测试产品。以下内容为您带来美国TEKTRONIX信号发生器AFG31000概述的相关产品信息及介绍，如您有需要，欢迎随时来电咨询！

一、美国TEKTRONIX信号发生器AFG31000概述
泰克信号发生器覆盖多种应用，从复现传感器信号到创建RF及高速的串行数据信号。每种通用信号发生器都能创建几乎无限的信号：模拟信号或数字信号、理想信号或失真信号、标准信号或自定义信号。从简化接收机测试的、特殊的高速串行数据波形直接合成功能，到常用激励信号使用的、功能广泛的任意波形函数发生器，总有一款泰克信号发生器能够解决您的调试挑战。如今的设计通常非常复杂，在测试中需要多种激励信号。泰克函数发生器具有标准波形、任意波形功能和信号损伤选项，通过一台仪器来支持广泛的应用需求。强劲的函数发生器性能保证准确复现信号。

二、美国TEKTRONIX信号发生器AFG31000介绍
采用InstaView™技术的AFG31000系列为内置波形发生应用程序、具有实时波形监测功能并采用智能用户界面的首款高性能任意波函数发生器。泰克AFG31000系列是全新智能型AFG，它内置任意波形发生和实时波形监测功能，并拥有市场上非常大的触摸屏。全新AFG31000提供了高级波形生成和编程功能，支持波形监测，拥有流行的触摸屏界面，让每个科研人员和工程师的测试变得更简单，让工作变得更轻松。AFG31000是一款包括内置双脉冲测试软件的函数发生器。现在，您可以在一分钟内直接在触摸显示屏上生成两个具有可变脉冲宽度（从20 ns到150µs）的波形。无需使用外部PC应用程序或手动编辑。打开包装后，在连续模式下每通道可以生成高达16 M点的精确长波形。可变采集时钟技术确保您不再丢失任何波形数据。产品功能可升级，您可以进一步提高测试水平并只需花费传统AWG十分之一的成本进行复杂波形的创建和编辑。

三、美国TEKTRONIX信号发生器AFG31000主要性能指标
1、单或双通道型号
2、输出幅度范围1mVP-P~10VP-P至50Ω负载
3、基本(AFG)模式：
①25 MHz,50MHz,100MHz,150MHz,或250MHz正弦波形
②250 MSa/s,1GSa/s或2GSa/s采样率
③14位垂直分辨率
④内置波形包括正弦、方波、锯齿波、脉冲、噪声和其他常用波形
⑤扫描、突发和调制模式(AM,FM,PM,FSK和PWM)

4、高级(序列)模式：
①连续模式(选配序列模式、已触发模式和选通模式)
②每条通道上16Mpts任意波形内存(128Mpts选配)
③序列模式下最多256步，支持循环、跳转和等待事件
④可变采样时钟1µSa/s~2GSa/s

四、美国TEKTRONIX信号发生器AFG31000主要功能
①凭借InstaView™技术，工程师可以实时查看被测器件(DUT)上的实际波形，而不需使用示波器和探头，降低了因阻抗不匹配引起的不确定度
②波形序列选项可以对复杂的长波形编程，支持最多256步
③9英寸容性触摸屏的操作与智能手机类似，为常用设置提供了快捷方式
④内置ArbBuilder可以在仪器上创建和编辑任意波形，而不需要连接电脑
⑤可以防止输出发生过压和过流，最大限度地降低仪器损坏的潜在风险
⑥兼容TekBench™软件，在实验室中帮助学生设置、控制和分析测试结果

五、美国TEKTRONIX信号发生器AFG31000应用
①高级研究
②时钟和系统同步
③复现真实世界信号
④元器件和电路表征和验证
⑤嵌入式电路设计和测试
⑥通用信号生成

六、美国TEKTRONIX信号发生器AFG31000性能
AFG31000系列是第一个拥有全功能基本模式(AFG)和高级(序列)模式的任意波函数发生器。在基本模式下，AFG31000生成传统函数和任意波形。触摸屏和前面板控制功能可以简便地进行设置。基本模式可以改变频率，而不用担心波形长度和采样率。这种功能既适合表征滤波器/放大器频响的模拟设计，也适合时钟速率经常变化的数字设计。高级模式是AFG31000中提供的新模式，可以生成多个复杂定时的波形。在这种模式下，您可以编写一个由1~256个波形组成的列表(或序列)，总波形长度可达16Mpts/ch(128Mpts/ch选配)，并定义这些波形的输出序列。支持重复、转到、等待、跳转和已触发事件，大容量内存可以存储许多波形或长波形。这种功能特别适合需要顺序执行多个测试用例的应用。您不用逐个加载测试用例，而是可以把所有测试用例放到一个序列中，一次性加载这些测试用例，然后从一个测试用例无缝切换到另一个测试用例，大大提高测试效率。

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